Laboratorio de Difracción de Rayos X. Infraestructura

Laboratorio Certificado en ISO 9001:2008

El Laboratorio de Difracción de Rayos X del Centro de Física Aplicada y Tecnología Avanzada de la UNAM, proporciona el servicio de análisis para el estudio de la estructura de materiales sólidos (cristalinos o amorfos) que se presenten en polvo. Pueden analizarse muestras metálicas, cerámicas, poliméricas y materiales compuestos.

Infraestructura

El laboratorio cuenta con dos equipos: un Difractómetro marca Rigaku, modelo MiniFlex+, con detector de centelleo, y un Difractómetro Rigaku, modelo Ultima IV, el cual cuenta con dos detectores, uno convencional de centelleo y uno ultra rápido de estado sólido (D/teX Ultra). Ambos difractómetros poseen tubos de rayos –X con blanco de cobre. El equipo Ultima IV posee varios aditamentos, con los cuales pueden realizarse análisis de polvos, de películas delgadas, utilizar diversas geometrías en la óptica para formar haces paralelos, análisis en condiciones no ambientales y la técnica de dispersión de rayos – X de bajo ángulo (SAXS, por sus siglas en inglés).

También se cuenta con dos programas de cómputo: “Materials Data Jade”, de la empresa “MDI Materials Data” y PDXL2. Mediante estos programas de cómputo es posible analizar los difractogramas con el fin de determinar las posibles fases cristalinas presentes en las muestras estudiadas; para ello, se cuenta con una base de datos avalada por el “National Institute of Standards and Technology” (NIST) y con la base de datos publicada por el “International Centre for Diffracion Data” (ICDD), con ello es posible realizar análisis cualitativos y cuantitativos.